Analogieverfahren für die Bestimmung elektromagnetischer Wechselfelder in Leitern und Halbleitern
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1961Type
- Doctoral Thesis
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-000089813Publication status
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ETH ZürichSubject
SPANNUNGSMESSUNG (ELEKTRISCHE MESSTECHNIK); WECHSELFELDER (ELEKTROTECHNIK); HALBLEITERMATERIALIEN (ELEKTROTECHNIK); METALLLEITER (ELEKTROTECHNIK); HALBLEITER + HALBLEITERTECHNOLOGIE (ELEKTROTECHNIK); LEITERMATERIALIEN (ELEKTROTECHNIK); VOLTAGE MEASUREMENT (ELECTRICAL MEASUREMENT TECHNIQUE); ALTERNATING FIELDS (ELECTRICAL ENGINEERING); SEMICONDUCTOR MATERIALS (ELECTRICAL ENGINEERING); METALLIC CONDUCTORS (ELECTRICAL ENGINEERING); SEMICONDUCTORS + SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY (ELECTRICAL ENGINEERING); CONDUCTOR MATERIALS (ELECTRICAL ENGINEERING)Notes
Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 3131, 0000. Ref.: Strutt, M. ; Korref.: Speiser, A.P..More
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