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Author
Date
2006Type
- Doctoral Thesis
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yes
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-005173996Publication status
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Contributors
Examiner: van der Veen, Johannes F.
Examiner: Spencer, Nicholas D.
Examiner: de Jeu, Wim H.
Publisher
ETH ZurichSubject
OBERFLÄCHEN + GRENZFLÄCHEN + BRUCHFLÄCHEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN); RÖNTGENOGRAPHISCHE UNTERSUCHUNG VON FLÜSSIGKEITEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN); DICHTE (FLÜSSIGKEITEN); BEUGUNG ELEKTROMAGNETISCHER WELLEN; GLIMMERARTIGE ISOLIERSTOFFE (ELEKTROTECHNIK); NANOTECHNOLOGIE; SURFACES + INTERFACES + FRACTURE SURFACES (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS); X-RAY EXAMINATION OF LIQUIDS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS); DENSITY (LIQUIDS); DIFFRACTION OF ELECTROMAGNETIC WAVES; MICACEOUS INSULATING MATERIALS (ELECTRICAL ENGINEERING); NANOTECHNOLOGYOrganisational unit
03562 - Van der Veen, Johannes
Notes
Diss., Naturwissenschaften, Eidgenössische Technische Hochschule ETH Zürich, Nr. 16472, 2006.More
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