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Author
Date
2005Type
- Doctoral Thesis
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-005061495Publication status
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Contributors
Examiner: Fichtner, Wolfgang
Publisher
ETHSubject
RASTERTUNNELMIKROSKOPE, RTM + RASTERTUNNELMIKROSKOPIE; MIKROSTRUKTUR VON MOLEKULARSYSTEMEN (PHYSIK); DOTIERUNG (HALBLEITERTECHNOLOGIE); EIGENSCHAFTEN DÜNNER SCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN); NUMERISCHE SIMULATION UND MATHEMATISCHE MODELLRECHNUNG; SCANNING TUNNELING MICROSCOPES, STM + SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; MICROSTRUCTURE OF MOLECULAR SYSTEMS (PHYSICS); DOPING (SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY); PROPERTIES OF THIN LAYERS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS); NUMERICAL SIMULATION AND MATHEMATICAL MODELINGOrganisational unit
03228 - Fichtner, Wolfgang
Notes
Diss., Technische Wissenschaften, Eidgenössische Technische Hochschule ETH Zürich, Nr. 16024, 2005.More
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