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Erweiterung einer photoelektrisch-interferometrischen Methode auf die Messung zeitlich veränderlicher, ebener Spannungszustände
| Metadata Label | Value |
|---|---|
| Author(s): | Hänggi, Henri |
| Publisher: | Unknown |
| Citation: | Hänggi, Henri. Erweiterung einer photoelektrisch-interferometrischen Methode auf die Messung zeitlich veränderlicher, ebener Spannungszustände. (1965). http://dx.doi.org/10.3929/ethz-a-000093964 |
| Document Type: | Doctoral and Habilitation Theses |
| Documents: |
Abstract
(61.07KB) |
Detailed Information
| Metadata | Description |
|---|---|
| Title | Erweiterung einer photoelektrisch-interferometrischen Methode auf die Messung zeitlich veränderlicher, ebener Spannungszustände |
| Author(s) | Hänggi, Henri |
| Publication Place | Zürich |
| Publication Date | 1965 |
| Notes | Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 3666, 0000. Ref.: Favre, H. ; Korref.: Weber, H. |
| Language | German |
| DOI | http://dx.doi.org/10.3929/ethz-a-000093964 |
| Subject(s) | Materials Testing, Properties |
| Keyword(s) | TESTING WITH POLARIZED LIGHT |
| Description | File Name | MIME Type | Size |
|---|---|---|---|
| Abstract |
eth-33412-01.pdf |
application/pdf | 61.07KB |
| Description | URL |
|---|---|
| NEBIS Link | http://opac.nebis.ch/F/?local_base=NEBIS&func=find-b&find_code=SYS&request=000093964 |
Abstract Views and Downloads  |
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| Views | 23 |  |
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E-Collection record created: Wed, 18 Feb 2009, 06:29:40 CET