Analytische Berechnung und Messung der Potential- und Dichteverteilung in Silizium-Dreischichtdioden von niederen bis zu höchsten Stromdichten

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Autor(en): Weiler, Jean, Weiler, Jean, Weiler, Jean
Verlag: Juris
Zitierweise:

Weiler, Jean, Weiler, Jean and Weiler, Jean. Analytische Berechnung und Messung der Potential- und Dichteverteilung in Silizium-Dreischichtdioden von niederen bis zu höchsten Stromdichten. Juris (1967). http://dx.doi.org/10.3929/ethz-a-000093377

Dokumententyp: Dissertationen und Habilitationen  
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Metadaten Beschreibung
Title Analytische Berechnung und Messung der Potential- und Dichteverteilung in Silizium-Dreischichtdioden von niederen bis zu höchsten Stromdichten
Author(s) Weiler, Jean
Weiler, Jean
Weiler, Jean
Publication Place Zürich
Publisher Juris
Publication Date 1967
Notes Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 4021, 1968. Ref.: Gerecke, E. ; Korref.: Guggenbühl, W.
Language German
DOI http://dx.doi.org/10.3929/ethz-a-000093377
Subject(s) Elektronik, Leistungselektronik und Mechatronik
Keyword(s) FLÄCHENDIODEN
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Abstract   eth-33277-01.pdf application/pdf 111.78KB
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E-Collection record created: Wed, 18 Feb 2009, 06:20:21 CET