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| Metadata Label | Value |
|---|---|
| Autor(en): | Weiler, Jean, Weiler, Jean, Weiler, Jean |
| Verlag: | Juris |
| Zitierweise: | Weiler, Jean, Weiler, Jean and Weiler, Jean. Analytische Berechnung und Messung der Potential- und Dichteverteilung in Silizium-Dreischichtdioden von niederen bis zu höchsten Stromdichten. Juris (1967). http://dx.doi.org/10.3929/ethz-a-000093377 |
| Dokumententyp: | Dissertationen und Habilitationen |
| Dokumente: |
Abstract
(111.78KB) |
| Metadaten | Beschreibung |
|---|---|
| Title | Analytische Berechnung und Messung der Potential- und Dichteverteilung in Silizium-Dreischichtdioden von niederen bis zu höchsten Stromdichten |
| Author(s) |
Weiler, Jean Weiler, Jean Weiler, Jean |
| Publication Place | Zürich |
| Publisher | Juris |
| Publication Date | 1967 |
| Notes | Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 4021, 1968. Ref.: Gerecke, E. ; Korref.: Guggenbühl, W. |
| Language | German |
| DOI | http://dx.doi.org/10.3929/ethz-a-000093377 |
| Subject(s) | Elektronik, Leistungselektronik und Mechatronik |
| Keyword(s) |
FLÄCHENDIODEN MIT MEHREREN PN ÜBERGÄNGEN |
| Beschreibung | Dateiname | MIME Type | Grösse |
|---|---|---|---|
| Abstract |
eth-33277-01.pdf |
application/pdf | 111.78KB |
| Beschreibung | URL |
|---|---|
| NEBIS Link | http://opac.nebis.ch/F/?local_base=NEBIS&func=find-b&find_code=SYS&request=000093377 |
| Abstract Views und Downloads |
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|---|---|---|
| Views | 57 | |
| Downloads | 87 | |
| Abstract Views und Downloads nach Land |
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E-Collection record created: Wed, 18 Feb 2009, 06:20:21 CET